Новости/2019-06-13 Проектирование топологии цифровых устройств

Материал из КИИСЭиА
(перенаправлено с «Events/2019-06-13-aspirants.html»)
Перейти к навигации Перейти к поиску

Научный семинар «Проектирование топологии цифровых устройств»

13 Июня на кафедре ИИСиФЭ состоялся научный семинар по итогам научно-исследовательский работы аспирантов «Проектирование топологии цифровых устройств». На семинаре были представлены следующие доклады:

  • Марцинкевич К. Р. «Джиттер цифровых сигналов: причины, составляющие и методы его анализа»,
  • Катин Д. Ю. «Разработка и оптимизация интерфейсов микроконтроллера»,
  • Илькив А. И. «Методология анализа потребляемой мощности сверхбольших интегральных блоков суб-100 нм системы на кристалле»,
  • Марков М. Е. «Разработка топологии с проектными нормами суб-100 нм с учетом оптимизации площади и энергопотребления при сохранении быстродействия на примере блока 3D-графики».

Представленные работы в основном связаны с проектированием топологии цифровых устройств и выполняются в рамках проектов «Создание твердотельных систем хранения данных с использованием интегральных микросхем высокой степени интеграции, произведенных по технологиям трехмерного многокристального корпусирования» и «Разработка гибридной технологии производства многокристальных микросхем с одновременным применением процессов корпусирования Flip-Chip и Wire Bond для создания отечественных импортозамещающих микроэлектронных модулей высокой степени интеграции».

К важным итогам перечисленных работ можно отнести:

  • создание аналитического обзора по методам анализа джиттера цифровых сигналов,
  • реализацию на основе ПЛИС интерфейса LPC для подключения периферийных устройств к микроконтроллерам (также ведётся работа над реализацией интерфейса I3C),
  • освоение методики маршрутизации связей между функциональными блоками систем на кристалле и проверки проектных норм и временных характеристик сигналов.

Слушателями семинара были преподаватели, сотрудники и аспиранты кафедры ИИСиФЭ. Докладчикам было задано множество вопросов по научным и техническим аспектам их работ.